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如何利用安阻法精准测量微小电阻？技术要点全解析
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如何利用安阻法精准测量微小电阻？技术要点全解析

安阻法在微小电阻测量中的挑战与应对策略

当待测电阻 R_x 非常小时（如几毫欧至几十毫欧），传统安阻法面临较大挑战，主要源于电流表内阻和导线压降对结果的显著干扰。因此，必须采取特殊设计才能实现高精度测量。

问题识别：为何普通方法不适用？

1. 电流表内阻通常为几欧姆，与毫欧级电阻相比不可忽略；
2. 导线电阻及接头接触电阻可能超过待测电阻本身；
3. 电压降极小，难以准确测量。

改进方案：四线制安阻法（开尔文连接）

采用“四线制”测量结构，将电流引线与电压检测引线分离，可有效消除导线电阻影响：

  • 两根电流线：用于输送恒定电流，但不参与电压测量；
  • 两根电压线：仅用于采集待测电阻两端的真实电压降，避免电流通过引线产生的压降干扰。

典型实验流程

1. 使用大电流源（如1A以上）通过待测电阻，确保产生足够大的电压信号；
2. 用高精度电压表（如数字万用表，分辨率可达1μV）测量 R_x 两端电压 U_x；
3. 记录电流值 I；
4. 应用公式：R_x = U_x / I，即可获得精确阻值。

应用场景举例

• 金属材料电阻率测试；
• 电池内阻检测；
• 电机绕组电阻测量；
• 超导材料临界电阻评估。

注意事项

• 确保电流稳定，避免热效应导致电阻变化；
• 测量时间不宜过长，防止温升影响结果；
• 使用屏蔽电缆减少电磁干扰。

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